TEM atom seviyesinde görüntü elde edebilen hassas bir yöntem ve cihazdır. Bu yöntemin önce bahsedilen "taramalı elektron mikroskobu" yönteminden farkı (her iki yöntemde de elektron demeti kullanılıyor) TEM'de elektron demetinin numune
malzemenin içinden geçerek yol almasıdır.